電磁流量計低導(dǎo)電率測量的探討  三十八

第四章抗干擾設(shè)計

摘要本章以降低可測流速下限為目的，探討了軟硬件的抗干擾問題。通過硬件抗干擾設(shè)計，有效減弱了負高壓電場和外界電磁干擾對電極電勢的影響；通過數(shù)字濾波，基本消除了尖峰電壓對渡越時間的影響，從而實現(xiàn)了小流速情況下流量的準確測量。

4．1硬件抗干擾設(shè)計

4．1．1管道的抗干擾措施

通過第三章的討論可知，放電碳刷處的負高壓電場對上下游電極感應(yīng)電勢的影響，是限制流速測量下限的主要因素。同時，在小流速下由帶電氣體流動所產(chǎn)生的感應(yīng)電勢幅值很小，來自周圍環(huán)境的電磁干擾也可能對電極上的電勢產(chǎn)生干擾，從而影響測量結(jié)果的準確性。因此需要采用相應(yīng)的抗干擾措施，消除負高壓電場和空間電磁干擾對電極電勢的影響。

電磁流量計